densoku的原理及特點(diǎn)分析

發(fā)布日期：2023-09-10      瀏覽次數(shù)：728

densoku的原理及特點(diǎn)分析

電解膜厚儀測(cè)量原理

膜厚是通過(guò)陽(yáng)極-陰極電解法熔化鍍膜來(lái)測(cè)量的，這是一種應(yīng)用“定律"測(cè)量鍍層厚度的方法。（陽(yáng)極電解電路見(jiàn)圖1。）在鍍膜結(jié)束時(shí)，測(cè)量部分以恒定電流熔化，因此膜金屬消失，當(dāng)?shù)讓咏饘俪霈F(xiàn)時(shí)，陽(yáng)極電壓發(fā)生變化，這個(gè)電壓檢測(cè)到變化，測(cè)量結(jié)束。 待辦事項(xiàng)。（見(jiàn)圖2）





電解式膜厚儀特點(diǎn)

• 雖然是破壞性測(cè)量方法，但測(cè)量簡(jiǎn)便，可以測(cè)量多層電鍍。

• 可測(cè)量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差

• 可分別測(cè)量純錫層和鍍錫銅時(shí)形成的合金層的厚度。

• 能夠測(cè)量X射線(xiàn)無(wú)法測(cè)量的鍍層厚度（最大300μm）。

• 通過(guò)使用電線(xiàn)測(cè)試儀，可以測(cè)量細(xì)電線(xiàn)上的電鍍膜厚度。

使用示例

• 測(cè)量鍍錫線(xiàn)（鍍錫銅線(xiàn)）上純錫層的厚度

• 汽車(chē)外飾件中Cr/Ni/Cu三層鍍層的測(cè)量，以及Ni鍍層中雙鎳、三鎳電位差的測(cè)量。

• 無(wú)損膜厚計(jì)測(cè)量的交叉檢查

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