光學(xué)應(yīng)用測量-FFP 測量裝置介紹

發(fā)布日期：2023-11-08      瀏覽次數(shù)：961

光學(xué)應(yīng)用測量-FFP 測量裝置介紹

FFP（遠(yuǎn)場方向圖）測量設(shè)備是測量半導(dǎo)體激光器、光纖、光波導(dǎo)、光模塊等FFP（遠(yuǎn)場方向圖）的設(shè)備。

光學(xué)系統(tǒng)采用我司的FFP測量光學(xué)系統(tǒng)M-Scope type F，結(jié)合我司的各種光電探測器和光束分析模塊AP013，可用于測量各種光學(xué)器件的FFP、輻射角分布、輸出NA。用于分析。

通過選擇光電探測器，可以構(gòu)建從可見光范圍到1550nm近紅外波段的各種光通信系統(tǒng)。






產(chǎn)品特點(diǎn)

• 使用FFP 測量光學(xué)系統(tǒng) M-Scope F 型

• 專用光學(xué)系統(tǒng)+圖像處理分析方法。易于調(diào)整，可在各個(gè)角度快速分析 FFP。

• 長工作距離設(shè)計(jì)，工作距離約6mm。

• 有兩種型號(hào)配備增透膜：一種適用于可見光范圍，另一種適用于近紅外范圍。

• 近紅外區(qū)域（650~1700nm波段增透膜產(chǎn)品）：M-Scope type F

• 可見光范圍（400~650nm波段增透膜產(chǎn)品）：M-Scope type F/BL

• 通過選擇光電探測器，可以進(jìn)行從可見光范圍到近紅外范圍的測量。

• 400~1100nm：高精度CMOS探測器ISA071、ISA071GL等

• 950~1700nm：InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2等

• [新] 400~1700nm：InGaAs高分辨率近紅外探測器　ISA041HRA

• 光束分析模塊AP013，包括分析裝置、光束分析軟件、檢測器驅(qū)動(dòng)器和校正數(shù)據(jù)。

• 多合一包裝允許安裝后立即使用。

• Optimetrics BA Standard，專為光束輪廓測量而開發(fā)的光束測量和分析軟件

• 我公司自主研發(fā)的用于測量光束輪廓的圖像處理和分析軟件。還支持EF/EAF測量功能。




產(chǎn)品主要用途

• 各種光器件、光模塊的FFP測量與分析

• 半導(dǎo)體激光器、光纖、光波導(dǎo)和光模塊的 FFP 分析

• 各種光學(xué)器件和光學(xué)元件的NA測量和分析

• 光纖、光布線波導(dǎo)、蝶形模塊等的NA分析。

• 多模光纖環(huán)向角通量分析

產(chǎn)品配置/元件選擇

設(shè)備配置圖



元件選擇

• FFP 測量光學(xué)系統(tǒng) M-Scope type F 系列選型

• 650~1700nm：FFP測量光學(xué)系統(tǒng)M-Scope F型

• 400~650nm：用于藍(lán)色 M-Scope F/BL 型的 FFP 測量光學(xué)系統(tǒng)

• 紅外高分辨率 FFP 光學(xué)系統(tǒng) M-Scope 型 FHR

• 這是一款專用于1310~1550nm波段的紅外高分辨率FFP測量光學(xué)系統(tǒng)。

• 探測器

• 400~1100nm：高精度CMOS探測器ISA071、ISA071GL

• 950~1700nm：InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2（紅外激光光束輪廓測量推薦型號(hào)）

• 400~1700nm：【新】InGaAs高分辨率近紅外探測器　ISA041HRA (SXGA)

• 僅 M-Scope 型 FHR：VGA 型 InGaAs 高靈敏度近紅外探測器 ISA041VH

• 光束分析模塊AP013

• 數(shù)據(jù)處理裝置主機(jī)、檢測器驅(qū)動(dòng)器、光束測量分析軟件Optometrics BA Standard、校正數(shù)據(jù)

• 配件

• 附帶電纜、手冊(cè)等

選項(xiàng)/配件選擇

• ND濾鏡

• 可見光（400~700nm）：NDF-5

• 近紅外（700nm~1100nm）：NDF NIR-5

• 紅外（1310nm~1550nm）：NDF IR-5

• 光學(xué)系統(tǒng)安裝座

• 用于光纖測量的光學(xué)系統(tǒng)支架

• 垂直光學(xué)系統(tǒng)安裝架

相關(guān)產(chǎn)品

• 廣域 FFP 測量裝置

• 這是一款FFP（遠(yuǎn)場模式）測量裝置，覆蓋約3mmφ的光通量直徑，支持大發(fā)光面積樣品測量。

• 準(zhǔn)直光測量裝置

• 這是一種高分辨率、實(shí)時(shí)觀察和測量光束窄發(fā)散角（準(zhǔn)直光狀態(tài)）的裝置。

• 光束NFP測量裝置

• 這是采用圖像處理分析方法的高性能NFP（近場模式）測量裝置。

• NFP/FFP同時(shí)測量裝置

• 這是一種使用同一外殼中的光學(xué)系統(tǒng)測量光束的 NFP 和 FFP 的裝置。

• 環(huán)向磁通/環(huán)向角磁通測量裝置

• 這是一種多模光纖環(huán)型通量/環(huán)型角通量分析裝置。

• 光束分析模塊AP013

• 高性能圖像處理系統(tǒng)，具有各種發(fā)光器件的光束測量、NFP/FFP/EF/EAF/4σ分析等豐富的發(fā)光參數(shù)分析功能。一套分析PC、光束分析軟件Optometrics BA、相機(jī)驅(qū)動(dòng)程序和各種校正數(shù)據(jù)。

• 我們還擁有各種光學(xué)測量系統(tǒng)和光學(xué)測量設(shè)備，可用于各種其他目的和應(yīng)用。