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在半導體制造領域，對生產環境的嚴格控制是保證產品質量的關鍵。其中，濕度管理更是重中之重，任何微小的水分波動都可能導致產品缺陷甚至批量報廢。
日本TEKHNE的TK-100在線露點計憑借其性能和可靠性，成為了半導體制造設備中濕度監測的理想選擇。
半導體制造過程對環境濕度有著極為嚴格的要求。生產環境中的水分含量會直接影響氧化層生長、薄膜沉積、光刻工藝等關鍵工序的質量。
露點控制不當會導致晶圓表面產生缺陷、降低產品良率。TEKHNE TK-100露點計能夠提供-100至+20°C dp的寬泛測量范圍和±2°C dp的高精度，滿足半導體制造的需求。
該設備采用靜電容量式原理，這種技術能夠快速響應并準確測量露點，確保及時發現任何可能影響生產質量的濕度變化。
TK-100露點計在半導體制造設備中有著多種關鍵應用。它在手套箱中的露點管理、檢查烘干機的露點、熱處理爐的氣氛控制等方面表現出色。
在潔凈室和干燥室的露點管理方面，TK-100能夠提供持續穩定的監測數據，幫助維持生產環境的高度穩定性。
該設備還用于氣體純度控制，特別是測量各種氣體如N2和Ar的露點，確保半導體工藝所用氣體的質量符合要求。
TK-100露點計的核心優勢在于其采用了先進的陶瓷傳感器技術和微處理器技術。
每個傳感器的特性都記錄在變送器中，實際測量的傳感器輸出由傳感器溫度計進行溫度補償，使露點值線性輸出。這種設計保證了每個傳感器的兼容性和測量一致性。
TK-100還具備高響應速度的特點，特別是在低于-50°C的露點環境下，其干燥室系統能夠顯著加快響應速度。
便攜式NK-I型號相比前代產品，重量減輕了一半，尺寸減少了三分之一，電池壽命卻延長了三倍，大大改善了基本性能。
TK-100在線露點儀的采樣設計極為簡便。用戶可以直接將其安裝在管道或測量環境中，或者采用旁路方式，安裝過濾器、傳感器塊和流量計進行采樣。
這種靈活的安裝方式使得TK-100能夠適應各種半導體制造場景的需求，從大型設備到小型密閉空間都能輕松應對。
設備提供完整的系統解決方案，包括TK-100變送器、監視器和傳感器電纜的一套完整系統，用戶可以輕松開始測量露點。
TEKHNE作為一家有著40年經驗的濕度管理和測量設備專業廠商，為TK-100露點計提供了全面支持系統。
所有TK-100產品均具有可追溯至國家標準的校準，確保測量結果的準確性和可靠性。
通過執行日本制造、生產線和校準的所有過程，TEKHNE在保證產品質量的同時，還將價格控制在易于引入的范圍內，適合各種規模的半導體制造企業。
TK-100露點計的高精度測量和快速響應特性，使其能實時監測半導體制造設備中的濕度變化，防止因水分含量異常導致的產品缺陷。
其陶瓷傳感器技術和微處理器溫度補償技術確保了在不同環境條件下的測量穩定性，這對于全天候運行的半導體生產線至關重要。
TK-100系列不僅適合固定安裝，其便攜式設計也讓技術人員能夠靈活檢測不同設備的露點情況，大大提升了維護效率。
