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更新日期：2024-03-26
簡要描述：
日本理研計器大氣光電子產(chǎn)率譜儀AC-5采用平板式開放式計數(shù)器，可計數(shù)高達 4000 cps 的光電子能夠安裝尺寸達 180 x 180 毫米的大型樣品
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)品種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 數(shù)顯功能 | 有 | 溫控功能 | 有 |
| 產(chǎn)地 | 進口 |
日本理研計器大氣光電子產(chǎn)率譜儀AC-5
功能 (*) 為可選
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采用平板式開放式計數(shù)器，可計數(shù)高達 4000 cps 的光電子
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能夠安裝尺寸達 180 x 180 毫米的大型樣品
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任何位置都可以通過點定測量進行測量。
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使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達 25 個板狀或粉末狀樣品。
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通過使用Xe（氙）燈（*），可以以高靈敏度測量不易產(chǎn)生電子的物質(zhì)。
目的
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有機EL和復(fù)制感光材料的電離勢測量
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硬盤和磁帶摩擦學研究
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半導體和引線框架表面氧化態(tài)的測量
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精密電子材料中分子級薄膜污染檢測
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測量以下功能材料的電離勢：
有機EL、有機太陽能電池、有機晶體管、復(fù)印感光材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導體材料（Si、GaN） 、GaAs等）、透明導電膜（ITO、FTO等）
日本理研計器大氣光電子產(chǎn)率譜儀AC-5
產(chǎn)品分類 | 大氣光電子產(chǎn)率譜儀 |
模型 | 交流-5 |
測量原理 | 大氣光電子產(chǎn)率譜儀（檢測部分：低能光電子計數(shù)法） |
光電探測器 | 平面開放式柜臺 |
紫外線能量范圍 | 3.4～6.2eV |
最小光量 | 1.0nW 或更低（5.9eV 時） |
最大光強度 | 500.0nW 或以上（D2 燈）/2500.0nW 或以上（選項：Xe 燈）（5.9ev 時） |
重復(fù)性（標準差） | 功函數(shù)0.02eV（樣品：金板） |
紫外光源 | D2燈/Xe燈（可選） |
紫外光斑尺寸 | 4 x 4 mm或更小（由于聚光透鏡的色差而因能量而異） |
最大光電子計數(shù)率 | 4000cps |
光譜儀 | 光柵式單色儀 |
最大樣本量 | 面積180×180mm以下，厚度1±0.2mm以下 |
溫濕度范圍 | 溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH |
電源 | AC100V-240V |
外形尺寸 | 光源部分 LC-1：約 450(W) x 300(H) x 500(D)mm |
重量 | 光源部分 LC-1：約 35 kg |
